№2 (2015) Устинов С.А., Петров В.А.  УДК 551.2.08:004.9  Рецензент: Веселовский А.В., доктор технических наук. Ключевые слова: микроструктурный анализ, специальная методика, ГИС-технологии, программный модуль, картирование микроструктур. Раздел: Применение ГИС-технологий